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薄膜测厚仪ST2000

产品名称:光学薄膜测厚仪ST2000

产品型号:

详细信息

产品简介:

使用K-MAC公司的先进光谱系统,可以很快、很容易地测量透光或者半透光薄膜的厚度、折射率及消光系数。简单地将K-MAC系统插入您电脑的USB口,并开始进行测量。整个系统只需要几分钟来搭建,而测量过程也仅需要基础的电脑知识。

产品特征:
 
1) 因为是利用光的方式,所以是非接触式,非破坏式,不会影响实验样品。
2) 可获得薄膜的厚度和 n,k 数据。
3) 测量迅速正确,且不必为测量而破坏或加工实验样品。
4) 可测量 3层以内的多层膜。
5) 根据用途可自由选择手动型或自动型。
6) 产品款式多样,而且也可以根据顾客的要求设计产品。
7)可测量 Wafer/LCD 上的膜厚度 (Stage size 3“ )
8)Table Top型, 适用于大学,研究室等
 

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 尺寸  190 x 265 x 316 mm
 重量  12Kg
 类型  手动的
 测量样本大小  ≤ 4"
 测量方法  非接触式
 测量原理  反射计
 特征  测量迅速,操作简单
 非接触式,非破坏方式
 优秀的重复性和再现性
 用户易操作界面
 每个影像打印和数据保存功能
 可测量多达3
 可背面反射
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 活动范围  150 x 120mm(70 x 50mm 移动距离)
 测量范围  200Å~ 35㎛(根据膜的类型)
 光斑尺寸  20㎛ 典型值
 测量速度  1~2 sec./site
 应用领域  聚合体: PVA, PET, PP, PR ...
 电解质: \
 半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS...
 选择  参考样品(K-MAC or KRISS or NIST)
 探头类型  三目探头
 nosepiece  Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt
 照明类型  12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer